OBLF Veos直讀光譜儀優(yōu)勢(shì)在哪里
點(diǎn)擊次數(shù):1686 更新時(shí)間:2018-08-13
OBLF Veos直讀光譜儀的優(yōu)勢(shì):
1、專為直讀光譜儀研發(fā)制造的半導(dǎo)體光敏檢測(cè)器,其感光能力比常規(guī)檢測(cè)器高100倍以上,覆蓋全部檢測(cè)波長(zhǎng)范圍;
2、光學(xué)系統(tǒng)采用恒溫真空光室,光學(xué)及電子元器件置于真空保護(hù)中,可不受外界環(huán)境變化的影響,重現(xiàn)性及長(zhǎng)期穩(wěn)定性;
3、通用多基體分析系統(tǒng)分析通道無限制,用于固體金屬材料成分快速分析;
4、專為直讀光譜儀研發(fā)制造的半導(dǎo)體光敏檢測(cè)器,其感光能力比常規(guī)檢測(cè)器高100倍以上,覆蓋全部檢測(cè)波長(zhǎng)范圍;
5、開放式激發(fā)臺(tái),適合各種形狀和尺寸樣品分析;
6、真空泵的運(yùn)行時(shí)間小于全部工作時(shí)間的5%,工作環(huán)境安靜;
7、可以應(yīng)用于多基體,不受元素選線的限制;
8、在檢出線、分析精度、和穩(wěn)定性等方面性能優(yōu)異;
9、可以分析氮元素和碳元素(包括超低碳);
10、能夠在灰塵較多的惡劣環(huán)境中使用。
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